研究室论文《电阻抗成像的故障电极高精度数据补偿方法》被期刊《传感器与微系统》录用。
电阻抗成像（EIT）过程中，电极脱落会导致电极接触不良，进而导致成像紊乱。本文提出了一种基于交替最小二乘（ALS）方法的故障电极高精度数据补偿方法，旨在利用良好的电压数据实现电极接触不良过程中错误数据的修正。通过实验验证，我们分别断开了一个、两个和三个电极，并与传统的均值插补（MI）方法和K最近邻（KNN）方法进行了比较。实验结果表明，采用本文提出的ALS方法进行电极错误数据修正，图像相关系数达到0.998以上，均方根误差不超过0.03，结构相似性指数达到0.98以上。这表明在存在多个脱落电极的情况下，采用ALS方法恢复的电压数据可以实现稳定的成像效果。详情可见期刊论文。
图 实验方法